检测方法及检测装置

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专利名称	检测方法及检测装置
申请号	CN201410049504.2	申请日期	2014-02-12
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2014-10-29	公开/公告号	CN104122073A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2;;;G;0;2;F;1;/;1;3查看分类表>
申请人	元太科技工业股份有限公司	申请人地址	中国台湾新竹市科学工业园区力行一路3号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	元太科技工业股份有限公司	当前权利人	元太科技工业股份有限公司
发明人	刘全丰;黄振勋;黄霈霖;李锡麟;蔡振法;张永昇
代理机构	北京中原华和知识产权代理有限责任公司	代理人	寿宁;张华辉

摘要

本发明是有关于一种检测方法包括下列步骤：令光电检测元件与包括多个像素单元的像素阵列基板接触。输入多个电气信号至像素阵列基板的像素单元与光电检测元件。根据光电检测元件的光学特性，判断像素阵列基板的像素单元是否正常。此外，一种实现上述检测方法的检测装置亦被提出。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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