一种用于齿轴精密加工中的径向跳动检测装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201810360546.6
IPC分类号：G01B11/00
申请日期：
2018-04-20
申请人：
衢州学院

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著录项信息

专利名称	一种用于齿轴精密加工中的径向跳动检测装置
申请号	CN201810360546.6	申请日期	2018-04-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-12-18	公开/公告号	CN109029248A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	衢州学院	申请人地址	浙江省衢州市九华北大道78号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	衢州学院	当前权利人	衢州学院
发明人	周兆忠
代理机构	北京华仲龙腾专利代理事务所（普通合伙）	代理人	李静

摘要

本发明提供了一种用于齿轴精密加工中的径向跳动检测装置，属于机械技术领域。它解决了现有齿轴测量径向跳动误差大的缺点。一种用于齿轴精密加工中的径向跳动检测装置，包括机架，所述的机架上依次设置有容置待测齿轴的存样槽、检测齿轴径向跳动的检测机构和存放检测后齿轴的储放槽，所述的存样槽上设置有取样机构，存样槽上还设置有限位齿轴的限位结构；所述的机架上还设置有能输送齿轴检测和输送齿轴存放的输送机构，输送机构位于检测机构的上方。本发明具有齿轴测量径向跳动误差小的优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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