EVS测试电路、EVS测试系统和EVS测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201310121988.2
IPC分类号：G01R31/30;G01R31/12
申请日期：
2013-04-09
申请人：
快捷半导体（苏州）有限公司;快捷半导体公司

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著录项信息

专利名称	EVS测试电路、EVS测试系统和EVS测试方法
申请号	CN201310121988.2	申请日期	2013-04-09
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2013-10-23	公开/公告号	CN103364712A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/30 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/30 临界测试，例如通过改变供给电压（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;0;;;G;0;1;R;3;1;/;1;2查看分类表>
申请人	快捷半导体（苏州）有限公司;快捷半导体公司	申请人地址	江苏省苏州市苏州工业园区苏桐路1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	快捷半导体（苏州）有限公司,快捷半导体公司	当前权利人	快捷半导体（苏州）有限公司,快捷半导体公司
发明人	N·加涅;C·克莱恩;S·马卡卢索
代理机构	北京派特恩知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	武晨燕;张颖玲

摘要

本申请述及一种电压应力(EVS)测试电路、EVS测试系统和EVS测试方法。所述EVS测试电路包括：第一开关和第二开关，其配置为接收正应力电压或负应力电压，其中所述第一开关配置为向第一半导体器件的栅极提供正应力电压，并将负应力电压与所述第一半导体器件的栅极隔离开，并且其中所述第二开关配置为向第二半导体器件的栅极提供负应力电压，并将正应力电压与所述第二半导体器件的栅极隔离开。所述EVS测试电路可以配置为向所述第一半导体器件或第二半导体器件提供EVS测试，而不存在除所述正应力电压或负应力电压之外的动力，并且在某些示例中，不需要接入所述第一半导体器件或所述第二半导体器件的源极或漏极。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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