一种精确测量磁芯损耗的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910482248.9
IPC分类号：G01R33/12
申请日期：
2019-05-30
申请人：
南京邮电大学

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著录项信息

专利名称	一种精确测量磁芯损耗的方法
申请号	CN201910482248.9	申请日期	2019-05-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-08-16	公开/公告号	CN110133547A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R33/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R33/00 测量磁变量的装置或仪器 G01R33/12 测量物品的磁性或者固体或流体样品的磁性（涉及磁共振的入G01R 33/20）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;3;/;1;2查看分类表>
申请人	南京邮电大学	申请人地址	江苏省南京市栖霞区文苑路9号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	南京邮电大学	当前权利人	南京邮电大学
发明人	周岩;佟光辉
代理机构	南京正联知识产权代理有限公司	代理人	王素琴

摘要

本发明提供一种精确测量磁芯损耗的方法，测量方法步骤如下：步骤一：测量流过待测磁芯电感的电流峰峰值I1、电流有效值Iac、交流阻抗Rac.core和平均输入功率Pcore；步骤二：测量流过空芯线圈组的电流峰峰值I2；步骤三：在LabVIEW上位机界面输入两次测量的电流峰峰值，控制单片机自动匹配电感网络来进行电感调节，使流过调节过的空芯线圈组和磁芯功率电感的电流峰峰值相同；记录此时空芯线圈组的交流阻抗Rac.air和平均输入功率Pair；步骤四：通过以上数据，根据公式对磁芯损耗Ploss进行计算。解决了传统磁损测量法存在的测量精度不高、对实验环境要求高、测量过程复杂等难题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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