一种基于劳厄衍射原理对全尺寸异型单晶无损检测的设备

发明专利有效专利

申请号：
CN202110695240.8
IPC分类号：G01N23/207
申请日期：
2021-06-23
申请人：
北京理工大学

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专利名称	一种基于劳厄衍射原理对全尺寸异型单晶无损检测的设备
申请号	CN202110695240.8	申请日期	2021-06-23
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-09-14	公开/公告号	CN113390910A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/207 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/14 （转入G01N 23/083-G01N 23/087， G01N 23/12） G01N23/20 利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射〔1，2006.01，2018.01〕 G01N23/207 衍射，例如，利用处于中心位置的一个探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器〔2，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;0;7查看分类表>
申请人	北京理工大学	申请人地址	北京市海淀区中关村南大街5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京理工大学	当前权利人	北京理工大学
发明人	谷珺昳;靳雪艺;聂志华;谭成文;宁先进
代理机构	北京理工大学专利中心	代理人	温子云;付雷杰

摘要

本发明提供一种基于劳厄衍射原理对全尺寸异型单晶无损检测的信息获取设备，所述信息获取设备，包括：X射线发生器(1)、探测器(2)、样品台(3)及变焦镜头(4)；所述样品台(3)用于夹持待测样品；所述X射线发生器(1)的第一滑轨基座(1‑2)与水平方向夹角为45度，所述待测样品的微区法线与所述X射线发生器(1)产生的X射线光束的入射方向呈45度；所述探测器(2)与水平方向夹角为135度，用于接收与实验室坐标系Z轴夹角135度出射的X射线衍射光束；所述变焦镜头(4)垂直对准光斑，用于测距定位。根据本发明的方案，可以精确无损得到全尺寸异型单晶的取向、三维应变张量等数据，能够分析计算滑移方向与位错密度。

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