发光二极管芯片和外延片光强测试仪

实用新型专利无效专利

申请号：
CN99257436.6
IPC分类号：--
申请日期：
1999-12-07
申请人：
浙江大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	发光二极管芯片和外延片光强测试仪
申请号	CN99257436.6	申请日期	1999-12-07
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	浙江大学	申请人地址	浙江省杭州市玉古路20号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浙江大学	当前权利人	浙江大学
发明人	鲍超
代理机构	浙江大学专利代理事务所	代理人	韩介梅

摘要

本实用新型的发光二极管芯片和外延片光强测试仪包括:用于放置芯片和外延片的测试台,用于扎住测试点的测试探针,光度探测器,光学观察装置及光强显示电路,光度探测器垂直位于测试台上方,测试时,用加在测试台和测试探针间的恒电流点亮被测件,利用光度探测器测量法向发光强度,并将其输出的光电流信号经光强显示电路转换成反应光强的电压信号来标定光强,该测试仪结构简单,测试精度高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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