薄片介质厚度异常检测方法及装置、存储介质及设备

发明专利有效专利

申请号：
CN202011512154.0
IPC分类号：G07D7/164;G07D7/20
申请日期：
2020-12-19
申请人：
深圳市怡化时代科技有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	薄片介质厚度异常检测方法及装置、存储介质及设备
申请号	CN202011512154.0	申请日期	2020-12-19
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-08-13	公开/公告号	CN113256870A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G07D7/164 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G07 核算装置 G07D 处理硬币、纸币或类似的有价纸币，例如按其面额检验、兑换，计数，分发，交付或存款〔2〕 G07D7/00 专门适用于确定纸币或类似有价纸币的同一性或真实性的检验，或者用于分离不合格的或不流通的纸币〔2，2016.01〕 G07D7/16 检验尺寸〔7，2016.01〕 G07D7/164 厚度〔2016.01〕	IPC分类号	G;0;7;D;7;/;1;6;4;;;G;0;7;D;7;/;2;0查看分类表>
申请人	深圳市怡化时代科技有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区粤海街道滨海社区白石路3939号怡化金融科技大厦29层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市怡化时代科技有限公司	当前权利人	深圳市怡化时代科技有限公司
发明人	包宜鉴
代理机构	深圳中细软知识产权代理有限公司	代理人	袁文英

摘要

本发明实施例公开了一种薄片介质厚度异常检测方法及装置、存储介质及设备，通过获取待检测薄片介质的厚度数据和目标图像来实现有效列通道的确定，实现了对待检测薄片介质边界的查找；通过有效列通道及厚度数据生成厚度波动矩阵，且该厚度波动矩阵用于表示待检测薄片介质中各个位置的厚度值偏离待检测薄片介质的厚度值中值的厚度波动值，使得能够有效提高对待检测薄片介质的厚度波动情况的确定，且通过利用该厚度波动矩阵和厚度检测模板确定待检测薄片介质的厚度是否存在异常，能够有效提高厚度异常检测的精确度，降低了误检和漏检的概率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供