Flash存储芯片总线信号分析工具

发明专利无效专利

申请号：
CN200810121736.9
IPC分类号：G11C29/00;G11C29/56
申请日期：
2008-10-27
申请人：
矽谷晶量半导体（杭州）有限公司

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引证文献

著录项信息

专利名称	Flash存储芯片总线信号分析工具
申请号	CN200810121736.9	申请日期	2008-10-27
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-03-11	公开/公告号	CN101383191
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;0;0;;;G;1;1;C;2;9;/;5;6查看分类表>
申请人	矽谷晶量半导体（杭州）有限公司	申请人地址	浙江省杭州市西湖区万塘路317号华星世纪大楼201室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	矽谷晶量半导体（杭州）有限公司	当前权利人	矽谷晶量半导体（杭州）有限公司
发明人	骆建军;陶航;陈丽娜
代理机构	杭州求是专利事务所有限公司	代理人	周烽

摘要

本发明公开了一种Flash存储芯片总线信号分析工具，其特征在于，它主要由Flash总线信号采样单元、Flash总线信号分析单元、Flash总线信号显示单元、Flash总线信号存储单元和Flash擦除均衡性分析单元组成。所述Flash总线信号采样单元、Flash总线信号显示单元、Flash总线信号存储单元和Flash擦除均衡性分析单元分别与Flash总线信号分析单元相连。所述Flash总线信号存储单元和Flash擦除均衡性分析单元分别与Flash总线信号显示单元相连。本发明相比使用传统测试工具，在分析Flash存储芯片总线信号方面，有了很大的进步和显著的优点。搭建分析环境十分简便，操作简单、方便，存储深度大。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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