辅助测试装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201110070388.9
IPC分类号：G01R1/04
申请日期：
2011-03-23
申请人：
鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	辅助测试装置
申请号	CN201110070388.9	申请日期	2011-03-23
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-09-26	公开/公告号	CN102692526A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/04 外壳；支承构件；端子装置	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,鸿海精密工业股份有限公司	当前权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,鸿海精密工业股份有限公司
发明人	赵志勇;王太诚;欧光峰
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

一种辅助测试装置，包括一电路板及一插槽，所述电路板的第一端设置有若干金手指，第二端与所述插槽相连，且所述若干金手指与插槽电性连接，所述电路板上位于第一端及第二端之间还设置有若干第一测试焊盘以及若干与第一测试焊盘具有不同形状或大小的第二测试焊盘，且所述若干第一测试焊盘以及第二测试焊盘对应与插槽内的若干接触点相连。上述辅助测试装置可方便的对主板进行信号测试。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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