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利用电子束熔炼制造高纯度多晶硅的装置及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201210158961.6
  • IPC分类号:C01B33/037
  • 申请日期:
    2012-05-21
  • 申请人:
    韩国能量技术研究院
著录项信息
专利名称利用电子束熔炼制造高纯度多晶硅的装置及方法
申请号CN201210158961.6申请日期2012-05-21
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2013-12-04公开/公告号CN103420376A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C01B33/037IPC分类号C;0;1;B;3;3;/;0;3;7查看分类表>
申请人韩国能量技术研究院申请人地址
韩国大田广域市 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人韩国能量技术研究院当前权利人韩国能量技术研究院
发明人张普允;李镇石;金儁秀;安永洙
代理机构北京路浩知识产权代理有限公司代理人张晶;王莹
摘要
本公开提供用于制造高纯度多晶硅的装置和方法。所述装置包括:保持真空气氛的真空室;第一电子枪和第二电子枪,布置在真空室的上端,以将电子束照射到真空室中;硅熔炼单元,该硅熔炼单元放置在与第一电子枪对应的第一电子束照射区域,粉末状原料硅被供给到硅熔炼单元并且被第一电子束熔化;以及单向凝固单元,被放置在与第二电子枪对应的第二电子束照射区域,并且经由浇道与硅熔炼单元连接。所述单向凝固单元的下部形成有冷却通道,并且在内部设置有沿向下方向驱动的起熔块,使得从硅熔炼单元供给的熔融硅在通过所述第二电子束而保持熔融状态的同时,被所述起熔块沿向部方向传送,之后通过所述冷却通道沿从所述熔融硅的下部到上部的方向凝固。

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