特定被摄体检测方法和装置

发明专利有效专利

申请号：
CN200610072576.4
IPC分类号：G06K9/00;G06K9/46
申请日期：
2006-04-07
申请人：
欧姆龙株式会社;清华大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	特定被摄体检测方法和装置
申请号	CN200610072576.4	申请日期	2006-04-07
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2007-10-10	公开/公告号	CN101051346
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06K9/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06K 数据识别；数据表示；记录载体；记录载体的处理（印刷本身入B41J） G06K9/00 用于阅读或识别印刷或书写字符或者用于识别图形，例如，指纹的方法或装置（用于图表阅读或者将诸如力或现状态的机械参量的图形转换为电信号的方法或装置入G06K 11/00；语音识别入G10L 15/00）〔1，7〕	IPC分类号	G;0;6;K;9;/;0;0;;;G;0;6;K;9;/;4;6查看分类表>
申请人	欧姆龙株式会社;清华大学	申请人地址	日本京都府变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	欧姆龙株式会社,清华大学	当前权利人	欧姆龙株式会社,清华大学
发明人	艾海舟;黄畅;李源;劳世红
代理机构	北京三友知识产权代理有限公司	代理人	孙海龙

摘要

本发明提供了一种特定被摄体检测方法和装置，所述方法包括特征提取步骤，弱分类步骤，强分类步骤以及特定被摄体检测步骤，其特征在于，所述特征提取步骤为提取所输入的图像的粒度空间内的稀疏粒子特征，所述稀疏粒子特征(见右下式)，其中，π为图像的粒度空间，gi(π；x，y，s)为该粒度空间内的一个粒子特征，x，y分别是粒子在图像横坐标和纵坐标轴上的偏移量，s是粒子的尺度，而αi为粒子的组合系数，n为粒子个数。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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