型面光学测量系统综合标定方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200410018308.5
IPC分类号：G06T7/00;G01B11/24
申请日期：
2004-05-13
申请人：
上海交通大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	型面光学测量系统综合标定方法
申请号	CN200410018308.5	申请日期	2004-05-13
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2005-01-26	公开/公告号	CN1570553
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;1;B;1;1;/;2;4查看分类表>
申请人	上海交通大学	申请人地址	上海市闵行区东川路800号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海交通大学	当前权利人	上海交通大学
发明人	严隽琪;习俊通;姜涛
代理机构	上海交达专利事务所	代理人	周文娟

摘要

型面光学测量系统综合标定方法，采用设计独特的白色底色上分布均匀黑色菱形方格阵列的标定板和相应菱形方格阵列的投影仪标定光栅，通过激光定位校正标定板的位置，使投影仪投影的菱形方格落在标定板的白色间隙内，由摄像机记录投影仪关闭前、后的标定板图像作为标定图像，对标定图像进行处理获得摄像机标定的基础数据，采用两步标定法实现摄像机的标定，根据摄像机标定结果计算出投影仪标定点的空间坐标，与对应的投影仪图像平面标定点坐标匹配作为基础数据实现投影仪的标定，根据投影仪坐标系和摄像机坐标系之间的转换关系实现系统几何参数的标定。本发明解决了标定点的精确自动提取问题，实现摄像机和投影仪及测量系统的综合标定，具有重要的工程实用价值。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供