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绝缘层覆硅结构及其制备方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201510325062.4
  • IPC分类号:H01L27/12;H01L21/77
  • 申请日期:
    2015-06-12
  • 申请人:
    宁波时代全芯科技有限公司;英属维京群岛商时代全芯科技有限公司
著录项信息
专利名称绝缘层覆硅结构及其制备方法
申请号CN201510325062.4申请日期2015-06-12
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2015-09-30公开/公告号CN104952886A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L27/12IPC分类号H;0;1;L;2;7;/;1;2;;;H;0;1;L;2;1;/;7;7查看分类表>
申请人宁波时代全芯科技有限公司;英属维京群岛商时代全芯科技有限公司申请人地址
江苏省淮安市淮阴区长江东路601号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人江苏时代芯存半导体有限公司,英属维京群岛商时代全芯科技有限公司,江苏时代全芯存储科技股份有限公司当前权利人江苏时代芯存半导体有限公司,英属维京群岛商时代全芯科技有限公司,江苏时代全芯存储科技股份有限公司
发明人吴孝哲
代理机构北京律诚同业知识产权代理有限公司代理人徐金国
摘要
本发明揭露一种绝缘层覆硅结构及其制备方法。绝缘层覆硅结构包含一底层,一绝缘层,一主动层与一阻隔层。绝缘层位于底层上,而主动层嵌于绝缘层中。阻隔层则位于绝缘层中并环绕主动层。

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