电路的温度曲线获取方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201811545029.2
IPC分类号：G01R31/28;G06F17/10
申请日期：
2018-12-17
申请人：
矽力杰半导体技术（杭州）有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	电路的温度曲线获取方法
申请号	CN201811545029.2	申请日期	2018-12-17
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-05-10	公开/公告号	CN109738784A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;6;F;1;7;/;1;0查看分类表>
申请人	矽力杰半导体技术（杭州）有限公司	申请人地址	浙江省杭州市文三路90号东部软件园科技大厦A1501室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	矽力杰半导体技术（杭州）有限公司	当前权利人	矽力杰半导体技术（杭州）有限公司
发明人	赖炯为
代理机构	北京睿派知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	刘锋;刘熔

摘要

公开了一种电路的温度曲线获取方法，本发明实施例通过测量常温和较高温度下两个温度点的带隙电压，根据温度曲线为经过坐标旋转的二次曲线的特点，通过两个温度点的带隙电压估算旋转角度，并进而估算第三个温度点的带隙电压，最后基于三个不同的温度点的带隙电压拟合获取电路的温度曲线。由此，可以不需要复杂的检测过程，就可以较为精确地获取电路实际温度曲线，提高了电路设计的效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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