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一种用于测量光器件频率响应的装置和方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201510345041.9
  • IPC分类号:H04B10/07
  • 申请日期:
    2015-06-19
  • 申请人:
    北京邮电大学
著录项信息
专利名称一种用于测量光器件频率响应的装置和方法
申请号CN201510345041.9申请日期2015-06-19
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2015-09-30公开/公告号CN104954066A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04B10/07IPC分类号H;0;4;B;1;0;/;0;7查看分类表>
申请人北京邮电大学申请人地址
北京市海淀区西土城路10号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京邮电大学当前权利人北京邮电大学
发明人戴一堂,张梓平,徐坤,尹飞飞,李建强
代理机构北京聿宏知识产权代理有限公司代理人钟日红,李心稳
摘要
本发明提供一种用于测量光器件频率响应的装置和方法。该装置包括:激光光源,用于产生连续式激光载波,检测光路,用于对所述激光载波进行调制生成第一光频梳,使第一光频梳通过待测光器件得到检测光梳,以将待测光器件的幅频响应和相频响应记录在检测光梳的梳齿上,使检测光梳变频为基带检测信号,基准光路,用于对所述激光载波进行调制生成第二光频梳,使第二光频梳变频为基带基准信号,采样处理模块,用于根据基带检测信号和基带基准信号进行采样,并计算待测光器件的幅频响应和相频响应。本发明在保证测量精度与带宽的同时保证测量速度,且同时获得待测器件的幅频与相频响应。

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