一种微力测量装置、其制备方法及原位力学测试的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110095710.7
IPC分类号：G01N3/08;G01N3/06
申请日期：
2021-01-25
申请人：
武汉大学

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专利名称	一种微力测量装置、其制备方法及原位力学测试的方法
申请号	CN202110095710.7	申请日期	2021-01-25
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2021-06-08	公开/公告号	CN112924275A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N3/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N3/00 用机械应力测试固体材料的强度特性 G01N3/08 施加稳定的张力或压力（G01N 3/28优先）	IPC分类号	G;0;1;N;3;/;0;8;;;G;0;1;N;3;/;0;6查看分类表>
申请人	武汉大学	申请人地址	湖北省武汉市武昌区八一路299号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉大学	当前权利人	武汉大学
发明人	刘泽;张凯翔;马明哲
代理机构	湖北武汉永嘉专利代理有限公司	代理人	暂无

摘要

一种微力测量装置、其制备方法及原位力学测试的方法，涉及细微尺度力学领域。该微力测量装置包括金属玻璃制成的固定基座和至少两根间隔布置的微悬臂探针，两根微悬臂探针的一端与固定基座连接，两根微悬臂探针的另一端端部之间的间距在100μm之内。本申请提供的微力测量装置、其制备方法及原位力学测试的方法利用金属玻璃制成的微力测量装置直接测量细微尺度试样位移值并通过弹簧系数转换成受力载荷值，不需要对位移进行电学或光学信号的转换，具有结构简单可靠、测试过程方便、测试成本低、测试量程大的优点，且测试结果受零漂和热漂等的影响小。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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