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向微芯片供给试剂的方法、微芯片及向微芯片供给试剂的试剂供给装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201380013928.7
  • IPC分类号:G01N35/10;G01N35/02;G01N37/00
  • 申请日期:
    2013-05-14
  • 申请人:
    优志旺电机株式会社
著录项信息
专利名称向微芯片供给试剂的方法、微芯片及向微芯片供给试剂的试剂供给装置
申请号CN201380013928.7申请日期2013-05-14
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2014-12-24公开/公告号CN104246512A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N35/10IPC分类号G;0;1;N;3;5;/;1;0;;;G;0;1;N;3;5;/;0;2;;;G;0;1;N;3;7;/;0;0查看分类表>
申请人优志旺电机株式会社申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人优志旺电机株式会社当前权利人优志旺电机株式会社
发明人森田金市;川口俊一;岛津克明
代理机构永新专利商标代理有限公司代理人胡建新;朴勇
摘要
在具有固定厌氧性的抗体的试剂配置区域的微芯片中,能够不与空气接触地稳定地向试剂配置区域供给厌氧性试剂。通过薄板部(11a)和具有自修复功能的由有机硅凝胶构成的自修复密封件(17)闭塞通向具有试剂配置区域的流路(14)的流入口(13a)、排出口(13b)。在向微芯片(10)供给试剂时,使前端部形成为针状且具有成为流体放出口的开口(21a)的流体放出单元(21)、以及前端部形成为针状且具有成为流体回收口的开口(22a)的流体回收单元(22)分别贯通上述薄板部(11a)和自修复密封件(17)而进入到具有上述试剂配置区域的空间。并且,从流体放出单元(21)注入试剂,并且从流体回收单元(22)排出注入完的试剂,从而将试剂供给到微芯片(10)的试剂配置区域的空间。

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