一种测量真空紫外光强度的金属纳米线探测器及其方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201310303636.9
IPC分类号：G01J1/42G01J3/28
申请日期：
2013-07-18
申请人：
北京工商大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种测量真空紫外光强度的金属纳米线探测器及其方法
申请号	CN201310303636.9	申请日期	2013-07-18
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2013-10-23	公开/公告号	CN103364080A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J1/42 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J1/00 光度测定法，例如照相的曝光表（分光光度测定法入G01J 3/00；专用于辐射高温测定法的入G01J 5/00） G01J1/42 采用电辐射检测器（光学或机械部件入G01J 1/04；与基准光或基准电参数作比较的入G01J 1/10）	IPC分类号	G01J1/42;G01J3/28查看分类表>
申请人	北京工商大学	申请人地址	北京市海淀区阜成路*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京工商大学	当前权利人	北京工商大学
发明人	赵佳
代理机构	北京北新智诚知识产权代理有限公司	代理人	朱丽华

摘要

一种测量真空紫外光强度的金属纳米线探测器及方法，实现对真空紫外光谱信号的绝对测量。探测器由带纳米孔的多孔阳极氧化铝模板构成，该板的纳米孔中沉积有可生长出单质金属纳米线的单质金属，该探测器用于真空环境下测量30－250eV的紫外光信号强度。测量方法是：用一铜环片作阳极，用金属纳米线探测器作阴极，两者间插有绝缘垫圈，将阴极与一个电流计串联，并在该测量回路中加设一可为阳极与阴极间提供正或负偏压的直流稳压电源；先用一传输标准探测器对金属纳米线探测器进行标定；再将标定好的探测器置于测量光强信号光路布局中的对应位置上；启动光路系统，并对阳极与阴极间加正或负偏压；采用全电子产额的方法测量光强信号，测量高效且信号稳定。