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一种检测数字专用集成电路中触发器单粒子效应的系统

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201110092403.X
  • IPC分类号:G01R31/317;G01R31/303
  • 申请日期:
    2011-04-13
  • 申请人:
    北京时代民芯科技有限公司;中国航天科技集团公司第九研究院第七七二研究所
著录项信息
专利名称一种检测数字专用集成电路中触发器单粒子效应的系统
申请号CN201110092403.X申请日期2011-04-13
法律状态权利终止申报国家暂无
公开/公告日2011-11-30公开/公告号CN102262212A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/317IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;3;1;7;;;G;0;1;R;3;1;/;3;0;3查看分类表>
申请人北京时代民芯科技有限公司;中国航天科技集团公司第九研究院第七七二研究所申请人地址
北京市丰台区东高地四营门北路2号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京时代民芯科技有限公司,中国航天科技集团公司第九研究院第七七二研究所当前权利人北京时代民芯科技有限公司,中国航天科技集团公司第九研究院第七七二研究所
发明人郑宏超;范隆;岳素格;董攀;杜守刚;杨晓飞;贾海涛;于春青;祝长民;刘立全;江军
代理机构中国航天科技专利中心代理人臧春喜
摘要
本发明公开了一种检测数字专用集成电路中触发器单粒子效应的系统,包括主控计算机、可编程逻辑器件、存储器件、传输协议器件;其中可编程逻辑器件由模式选择模块、向量生成模块、边沿检测模块、电平检测模块、错误帧缓存模块和传输协议模块组成。本发明能够有效区分时钟电路单粒子翻转造成的大量触发器翻转与正常大量的触发器单粒子翻转现象,同时结合错误帧缓存模块的保存数据,精确地统计出每个触发器的单粒子翻转错误率。本发明系统组成简单,检测精度高。

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