一种易测量的液晶显示用TFT阵列基板

实用新型专利无效专利

申请号：
CN200820054577.0
IPC分类号：G02F1/1362;G02F1/13;G01R31/00
申请日期：
2008-01-09
申请人：
上海广电光电子有限公司

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专利名称	一种易测量的液晶显示用TFT阵列基板
申请号	CN200820054577.0	申请日期	2008-01-09
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G02F1/1362 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G02 光学 G02F 用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如转换、选通、调制或解调，上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的；用于上述操作的技术或工艺；变频；非线性光学；光学逻辑元件；光学模拟/数字转换器〔2，4〕 G02F1/00 控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如，转换、选通或调制；非线性光学〔2，4〕 G02F1/01 对强度、相位、偏振或颜色的控制（G02F 1/29、G02F 1/35优先）〔2，7〕 G02F1/13 基于液晶的，例如单位液晶显示单元〔2〕 G02F1/133 构造上的设备；液晶单元的工作；电路装置（用于控制矩阵中液晶元件并且在结构上不与这些元件相连的装置或电路入G09G 3/36）〔3，7〕 G02F1/136 结构上与一半导体层或基片相结合的液晶单元，例如形成集成电路部分的液晶单元（G02F 1/135优先）〔5〕 G02F1/1362 有源矩阵寻址单元〔7〕	IPC分类号	G;0;2;F;1;/;1;3;6;2;;;G;0;2;F;1;/;1;3;;;G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	上海广电光电子有限公司	申请人地址	上海市徐汇区宜山路757号三楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海广电光电子有限公司	当前权利人	上海广电光电子有限公司
发明人	杨海鹏
代理机构	上海申汇专利代理有限公司	代理人	白璧华

摘要

本实用新型公开了一种易测量的液晶显示用TFT阵列基板，包括共通电极、绝缘层和钝化层、像素电极层和封框胶，在所述的像素电极层还设置有ITO测试块，测试块和共通电极电连接，测试块的外侧测量端暴露于封框胶之外。本实用新型的易测量的液晶显示用TFT阵列基板由于在制造阵列基板时预先设置了与共通电极电连接的ITO测试块，该ITO测试块最外侧暴露于封框胶之外，可以不需要拆解面板就能用探针触碰到；这样就大大简化了测量所需的工序，也最大程度保证了基板的完整性、避免元件因此受损，大大提高了工作效率，也提高了成品率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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