发射光谱分析稀有金属中碳、硫、磷的方法及新光源设备

发明专利无效专利

申请号：
CN200410102514.4
IPC分类号：G01N21/67;G01N21/66
申请日期：
2004-12-24
申请人：
北京有色金属研究总院

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著录项信息

专利名称	发射光谱分析稀有金属中碳、硫、磷的方法及新光源设备
申请号	CN200410102514.4	申请日期	2004-12-24
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2006-07-05	公开/公告号	CN1796983
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/67 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/66 电激发的，例如电发光〔3〕 G01N21/67 利用电弧或放电〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;6;7;;;G;0;1;N;2;1;/;6;6查看分类表>
申请人	北京有色金属研究总院	申请人地址	北京市怀柔区雁栖经济开发区杨雁路88号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	国标（北京）检验认证有限公司	当前权利人	国标（北京）检验认证有限公司
发明人	钱伯仁;张宝泰;李秉才;刘湘生;潘元海;王长华;张福来
代理机构	北京北新智诚知识产权代理有限公司	代理人	朱丽华

摘要

一种发射光谱分析稀有金属中碳、硫、磷的方法：首先将被测样品置入电极穴中；选定对应值的大电容并入控制电路中；充入氩气并启动光源发生装置，激发高能量大火花，在高能量大火花下激励样品使之辐射。一种实现该方法的新光源设备，包括光源发生装置及其一对发射电极，光源发生装置内置的控制电路包括：一电源，其一路输出接至两阻隔高频保护电源电感的一端，该电感的另一端并入一大电容；电源的另一路输出接高压变压器，高压变压器的次级线圈再接至电感可调的高频变压器，高频变压器的次级线圈一端经保护电路接至分析间隙的一端，其另一端接至分析间隙的另一端。该设备还配有一带有上下气孔的旋流气室，在旋流气室的两相对侧各开一进气口。

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