改进型叶片叶根轮廓检测装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201520753224.X
IPC分类号：G01B5/20
申请日期：
2015-09-28
申请人：
成都弘佛科技有限公司

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著录项信息

专利名称	改进型叶片叶根轮廓检测装置
申请号	CN201520753224.X	申请日期	2015-09-28
法律状态	暂无	申报国家	暂无
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B5/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B5/00 以采用机械方法为特征的计量设备（包括在大组G01B 3/00中的各式量具本身入G01B 3/00）〔2〕 G01B5/20 用于计量轮廓或曲率	IPC分类号	G;0;1;B;5;/;2;0查看分类表>
申请人	成都弘佛科技有限公司	申请人地址	四川省成都市经济技术开发区东航路458号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	成都和鸿科技有限公司	当前权利人	成都和鸿科技有限公司
发明人	潘华林;陈金超;周继德
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型公开了一种改进型叶片叶根轮廓检测装置，包括测量体（1），测量体（1）上方开设有与叶片叶根（4）外形一致的检测槽（10），下方开设有长体通槽（11），检测槽（10）的下端设置一通孔（12），通孔（12）连通与检测槽（10）和长体通槽（11），通孔（12）中装配有光杆（2），光杆（2）下端抵拢在调节螺钉（3）上。本实用新型可避免叶片叶根合格时判定成不合格的误判情形发生；同时，可测定叶片叶根上表面和下表面与转子的最大公差间隙，进一步提高了测量精度，适合于高精度叶片叶根轮廓的检测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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