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温度采样处理方法及装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201510036044.4
  • IPC分类号:G05D23/19
  • 申请日期:
    2015-01-23
  • 申请人:
    小米科技有限责任公司
著录项信息
专利名称温度采样处理方法及装置
申请号CN201510036044.4申请日期2015-01-23
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2015-06-03公开/公告号CN104679055A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G05D23/19IPC分类号G;0;5;D;2;3;/;1;9查看分类表>
申请人小米科技有限责任公司申请人地址
北京市海淀区清河中街68号华润五彩城购物中心二期13层 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人小米科技有限责任公司当前权利人小米科技有限责任公司
发明人葛琦;杜慧;赵孟磊
代理机构北京尚伦律师事务所代理人代治国
摘要
本公开是关于温度采样处理方法及装置,用以实现智能动态地调整温度采样频率。所述方法包括根据采集的当前系统温度计算所述当前系统温度与预设的温度阈值之间的温差;获取与所述温差对应的预采样频率;根据所述预采样频率更新当前采样频率;按照所述更新后的采样频率对所述物体温度进行重新采集。本公开技术方案可根据当前系统温度与预设的温度阈值之间的温差大小,及时调整采样频率,从而实现了智能动态地调整温度采样频率。

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