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非对称低密度校验码编译码方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200510084920.7
IPC分类号：H03M13/11;H03M13/00
申请日期：
2005-07-25
申请人：
松下电器产业株式会社

基础信息

权利要求

说明书

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	非对称低密度校验码编译码方法
申请号	CN200510084920.7	申请日期	2005-07-25
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2007-01-31	公开/公告号	CN1905374
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H03M13/11 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H03 基本电子电路 H03M 一般编码、译码或代码转换（用射流方法入F15C 4/00；光学模/数转换器入G02F 7/00；专用于特殊应用的编码、译码或代码转换见有关小类，例如G01D，G01R，G06F，G06T，G09G，G10L，G11B，G11C，H04B，H04L，H04M，H04N；专用于密码技术或涉及需要保密的其他目的的编码或译码入G09C）〔4〕 H03M13/00 用于检错或纠错的编码、译码或代码转换；编码理论基本假设；编码约束；误差概率估计方法；信道模型；代码的模拟或测试（用于模/数，数/模或代码转换的检错或纠错入H03M 1/00至H03M 11/00；专用于数字计算机的入G06F 11/08，用于基于记录载体和传感器之间相对运动的信息存储器入G11B，例如G11B 20/18，用于静态存储器的入G11C）〔4，7〕 H03M13/03 用数据表示中的冗余项检错或前向纠错，即码字包含比源字更多的位数〔7〕 H03M13/05 应用分组码，即与预定信息位编号相连的预定校验位编号〔7〕 H03M13/11 应用多位奇偶校验位的〔7〕	IPC分类号	H;0;3;M;1;3;/;1;1;;;H;0;3;M;1;3;/;0;0查看分类表>
申请人	松下电器产业株式会社	申请人地址	日本大阪府变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	松下电器产业株式会社	当前权利人	松下电器产业株式会社
发明人	吴湛击;李继峰
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	王玮

摘要

公开了一种非对称低密度校验码编译码方法。本发明主要利用LDPC码的消息节点度数不规则的特点，将度数大的节点分配给信息比特，而度数小的节点分配给校验比特。同时，在译码端，不必等所有比特收敛，只需信息比特收敛即可停止迭代。

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