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半导体器件结构、肖特基二极管及其制备方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010317523.4
  • IPC分类号:H01L21/329;H01L29/872;H01L29/20;H01L29/40
  • 申请日期:
    2020-04-21
  • 申请人:
    上海芯元基半导体科技有限公司
著录项信息
专利名称半导体器件结构、肖特基二极管及其制备方法
申请号CN202010317523.4申请日期2020-04-21
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-07-17公开/公告号CN111430237A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/329IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;3;2;9;;;H;0;1;L;2;9;/;8;7;2;;;H;0;1;L;2;9;/;2;0;;;H;0;1;L;2;9;/;4;0查看分类表>
申请人上海芯元基半导体科技有限公司申请人地址
上海市浦东新区川沙路151号3幢T1046室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海芯元基半导体科技有限公司当前权利人上海芯元基半导体科技有限公司
发明人郝茂盛;袁根如;张楠;陈朋;马艳红
代理机构上海光华专利事务所(普通合伙)代理人佟婷婷
摘要
本发明提供一种半导体器件结构、肖特基二极管及其制备方法,肖特基二极管的制备方法包括:提供具有凹槽结构的生长基底,生长第一N型氮化镓层及第二N型氮化镓层,剥离生长衬底,形成阴极金属层及阳极金属层。本发明在生长基底上进行侧向外延生长形成第一N型氮化镓层,可以提高氮化镓晶体质量,提高表面平整度,减少晶体缺陷,制作垂直结构的肖特基二极管,有利于承受较大的电流及电压,另外,设置阴阳电极上下平行错开,有利于避免两电极直接对冲击穿芯片,提高氮化镓肖特基二极管的耐压特性与降低其漏电流。

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