一种基于FPGA的频率测量装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201510976260.7
IPC分类号：G01R23/10
申请日期：
2015-12-22
申请人：
南京信息工程大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种基于FPGA的频率测量装置
申请号	CN201510976260.7	申请日期	2015-12-22
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-04-13	公开/公告号	CN105486919A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R23/10 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R23/00 测量频率的装置；频谱分析装置 G01R23/02 频率测量装置，如脉冲重复率的测量；电流或电压周期的测量装置 G01R23/10 通过将频率变换成脉冲序列然后对其计数	IPC分类号	G;0;1;R;2;3;/;1;0查看分类表>
申请人	南京信息工程大学	申请人地址	江苏省南京市建邺区奥体大街69号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	南京信息工程大学	当前权利人	南京信息工程大学
发明人	华国环;费敬敬;陈彭鑫;陈治宇
代理机构	南京纵横知识产权代理有限公司	代理人	姚兰兰;董建林

摘要

本发明公开了一种基于FPGA的频率测量装置，包括整形电路和设置在FPGA内部的第一及第二测频模块、第一及第二脉冲测量模块、异或门及MCU；待测正弦波信号经过整形电路形成同频率方波信号，进入第一测频模块，从而测得待测正弦波的频率；待测第一矩形波信号的三路信号分别进入第二测频模块、第一脉冲测量模块和异或门；进入第二测频模块时用于测量第一矩形波信号的频率及周期，进入第一脉冲测量模块时用于测量第一矩形波信号的占空比；待测第二矩形波信号与待测第一矩形波信号的一路分信号进入异或门用于测量待测第一矩形波信号与待测第二矩形波信号的时间间隔和相位差。本发明可精确测量正弦波的频率和矩形波的频率、周期、占空比、时间间隔及相位差。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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