一种核辐射测量仪器的刻度方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202011193825.1
IPC分类号：G01T7/00
申请日期：
2020-10-30
申请人：
重庆建安仪器有限责任公司

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引证文献

著录项信息

专利名称	一种核辐射测量仪器的刻度方法
申请号	CN202011193825.1	申请日期	2020-10-30
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-01-26	公开/公告号	CN112269206A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01T 核辐射或X射线辐射的测量（材料的辐射分析，质谱测定法入G01N 23/00用以测定辐射或粒子的存在、强度、密度或能量的管入H01J 47/00） G01T7/00 辐射计量仪器的附件	IPC分类号	G;0;1;T;7;/;0;0查看分类表>
申请人	重庆建安仪器有限责任公司	申请人地址	重庆市南岸区南坪西路168号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	重庆建安仪器有限责任公司	当前权利人	重庆建安仪器有限责任公司
发明人	陈磊;吴会寅;李石全;胡俊丽;徐智博
代理机构	重庆博凯知识产权代理有限公司	代理人	李杰

摘要

本发明公开了一种核辐射测量仪器的刻度方法，包括刻度设备和刻度装置；具体包括以下步骤：S1、将数据传送板上输出线缆与刻度设备电连接，并将仪器安装架的输出接头与数据传送板的传输接口电连接；S2、待测量的核辐射测量仪器安装到刻度装置的仪器安装架上，使测量的核辐射测量仪器与仪器安装架的输入接头电连接；S3、控制刻度设备对其中一仪器安装架上的核辐射测量仪器进行刻度；完成后，控制电动旋转台转动，完成其他核辐射测量仪器的刻度；S4、待所有仪器安装架上的核辐射测量仪器均刻度完成后，取下所有的核辐射测量仪器，并重复步骤S2‑S3进行其他核辐射测量仪器的刻度。本发明能够降低辐射泄漏风险，提高刻度效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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