一种基于M-Z干涉的偏振光谱成像装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010381179.5
IPC分类号：G01J3/447;G01J3/45;G01J3/28;G01J3/02
申请日期：
2020-05-08
申请人：
中国科学院西安光学精密机械研究所

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著录项信息

专利名称	一种基于M-Z干涉的偏振光谱成像装置及方法
申请号	CN202010381179.5	申请日期	2020-05-08
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-09-25	公开/公告号	CN111707367A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/447 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕 G01J3/447 偏振光谱法〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;4;4;7;;;G;0;1;J;3;/;4;5;;;G;0;1;J;3;/;2;8;;;G;0;1;J;3;/;0;2查看分类表>
申请人	中国科学院西安光学精密机械研究所	申请人地址	陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院西安光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院西安光学精密机械研究所
发明人	于涛;刘嘉诚;胡炳樑;刘宏;王雪霁;刘骁;张周锋
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司	代理人	赵逸宸

摘要

本发明属于偏振光谱成像装置及方法，为解决现有偏振光谱成像探测系统及其对应的方法，存在或不能用于动态目标实时测量，或不适用于偏振态信息快速变化的测量条件，或探测系统中需要设置狭缝的问题，提供一种基于M‑Z干涉的偏振光谱成像装置及方法，装置包括采集处理单元，以及依次设置的前置光学望远系统、干涉分光系统和偏振分光系统，成像方法基于上述装置，目标反射光经前置镜组和视场光阑前置收集并调整视场后，由准直镜组准直出射，经分束镜后，反射光先后经第一反射镜和第二反射镜反射后，穿过分束镜，入射至傅氏镜阵列；透射光依次经第三反射镜、第四反射镜和分束镜反射后，入射至傅氏镜阵列；再经偏振膜片，在探测器上产生偏振干涉条纹。

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