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光子芯片测试系统光纤阵列微调装置、耦合装置及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010347749.9
  • IPC分类号:G01R31/28;G01R1/04;H04B10/073
  • 申请日期:
    2020-04-28
  • 申请人:
    天津蓝鳍科技有限公司;纤瑟(天津)新材料科技有限公司
著录项信息
专利名称光子芯片测试系统光纤阵列微调装置、耦合装置及方法
申请号CN202010347749.9申请日期2020-04-28
法律状态公开申报国家中国
公开/公告日2020-07-10公开/公告号CN111398788A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/28IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;1;/;0;4;;;H;0;4;B;1;0;/;0;7;3查看分类表>
申请人天津蓝鳍科技有限公司;纤瑟(天津)新材料科技有限公司申请人地址
天津市滨海新区开发区信环西路19号泰达服务外包产业园8号楼2层(天津滨海外包产业有限公司托管第3028号) 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人天津蓝鳍科技有限公司,纤瑟(天津)新材料科技有限公司当前权利人天津蓝鳍科技有限公司,纤瑟(天津)新材料科技有限公司
发明人李静婷;赵复生;赵俊洋
代理机构北京沁优知识产权代理有限公司代理人周庆路
摘要
本发明提供一种光子芯片测试系统光纤阵列微调装置,所述微调装置包括有垂直设置的第一角度调节机构与第二角度调节机构,所述微调装置可带动设置于所述微调装置上的光纤阵列在垂直的两个方向实现角度微调。本发明还提供一种光子芯片测试系统光纤阵列耦合装置,包括有微调装置以及与所述微调装置固定连接的位移台,位移台可实现对探针卡进行空间上三个方向的位置调整。基于光子芯片测试系统光纤阵列耦合方法,可使得光纤阵列良好的对准到芯片端面的光栅区间,从而使得测试过程更加稳定,结果更加准确。

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