一种封帽对中比对管

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201720117148.2
IPC分类号：G01B5/252
申请日期：
2017-02-08
申请人：
武汉灿光光电有限公司

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著录项信息

专利名称	一种封帽对中比对管
申请号	CN201720117148.2	申请日期	2017-02-08
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B5/252 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B5/00 以采用机械方法为特征的计量设备（包括在大组G01B 3/00中的各式量具本身入G01B 3/00）〔2〕 G01B5/24 用于计量角度或锥度；用于轴线准直检测 G01B5/25 用于检测轴线准直 G01B5/252 用于测量偏心度，即两个平行轴之间的横向偏移〔6〕	IPC分类号	G;0;1;B;5;/;2;5;2查看分类表>
申请人	武汉灿光光电有限公司	申请人地址	湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号（Y）变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉灿光光电有限公司	当前权利人	武汉灿光光电有限公司
发明人	严付安;杨华
代理机构	广州市越秀区海心联合专利代理事务所（普通合伙）	代理人	蔡国;王洪娟

摘要

本实用新型公开了一种封帽对中比对管，其包括比对管本体，所述比对管本体上自外向内依次开设有相互同心的第一比对孔和第二比对孔，所述第一比对孔的内表面与光电二极管的底座外圆面相匹配，所述光电二极管的底座上设有芯片，所述芯片的出光面与所述底座相互同心，且所述芯片的外部还套设有透镜帽，所述透镜帽的外圆面与所述第二比对孔相匹配。本实用新型通过在比对管本体上自外向内依次开设相互同心的第一比对孔和第二比对孔，利用第一比对孔和第二比对孔对光电二极管的底座和透镜帽的同心度进行检测，而芯片的出光面与底座的相互同心，从而可以换算出透镜帽和芯片的同心度，其不仅结构简单、使用方便而且能适合的大批量的抽检。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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