一种测量镀膜玻璃薄膜光学参数的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200610053955.9
IPC分类号：G01N21/00;G01M11/02
申请日期：
2006-10-25
申请人：
浙江大学

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著录项信息

专利名称	一种测量镀膜玻璃薄膜光学参数的方法
申请号	CN200610053955.9	申请日期	2006-10-25
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2007-05-16	公开/公告号	CN1963460
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先）	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;0;0;;;G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	浙江大学	申请人地址	浙江省杭州市西湖区浙大路38号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浙江大学	当前权利人	浙江大学
发明人	韩高荣;刘涌;宋晨路;汪剑勋;刘军波;刘起英
代理机构	杭州求是专利事务所有限公司	代理人	韩介梅

摘要

本发明涉及一种测量镀膜玻璃薄膜光学参数的方法，包括如下步骤：建立薄膜厚度h、折射率n、消光系数k与薄膜透射率、反射率的函数关系，与实测镀膜玻璃的可见光透射、反射光谱联立构成曲线拟和问题，利用模拟退火法、牛顿迭代法相结合的两步法求解这个曲线拟和问题，从而获得薄膜光学参数的测量结果。本发明与已有的相应技术相比，更适于镀膜玻璃薄膜的测量，具有快速准确的测量效果，测量结果稳定，而且方法简便易行，成本低廉。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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