基于超声相控阵的高温叶片内部缺陷三维无损检测方法发明专利
申请号：CN201710314019.7
LOC分类号:G01N29/06
IPC结构图谱：
- H电学
- H9电学
- H05其他类目不包含的电技术
- H05K印刷电路；电设备的外壳或结构零部件；电气元件组件的制造（其他类目不包括的仪器零部件或其他设备的类似零部件入G12B；薄膜或厚膜电路入H01L 27/01，H01L 27/13；用于对印刷电路或印刷电路之间的电连接的非印刷方法入H01R；用于特殊类型设备的外壳或其结构零部件，见有关小类；仅包括单一工艺的加工方法，例如已列入其他类目的加热、喷射，见有关的类）
- H05K1/00印刷电路（多个单个半导体器件或固态器件的组装件入H01L 25/00；由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件组成的器件，例如集成电路，薄膜或厚膜电路，入H01L 27/00）
- H05K1/18在结构上与非印制电元件相联接的印刷电路（H05K 1/16优先）
