通过紫外线发光二极管模拟紫外线光谱特性的装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201310278369.4
IPC分类号：G01N17/00
申请日期：
2013-07-04
申请人：
阿特拉斯材料测试技术公司

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著录项信息

专利名称	通过紫外线发光二极管模拟紫外线光谱特性的装置
申请号	CN201310278369.4	申请日期	2013-07-04
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-01-22	公开/公告号	CN103528940A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N17/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N17/00 测试材料的耐气候，耐腐蚀，或耐光照性能	IPC分类号	G;0;1;N;1;7;/;0;0查看分类表>
申请人	阿特拉斯材料测试技术公司	申请人地址	德国灵森格里希特变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	阿特拉斯材料测试技术公司	当前权利人	阿特拉斯材料测试技术公司
发明人	贝恩德·鲁道夫;姆克尔季奇·胡达韦尔季;彼得·马尔希
代理机构	北京大成律师事务所	代理人	李佳铭

摘要

通过紫外线发光二极管模拟紫外线光谱特性的装置。本装置包含风化室（1），在风化室中设置有紫外线辐射装置（2；20；30），且在与其存在距离的试样层中可设置至少一个试样（3），其中紫外线辐射装置（2；20；30）包含多个紫外线发光二极管（2.1；21；31.n），其中二极管包含两个或多个级别的光照带不同的紫外灯（2.1；21；31.n），其中光照带的选择必须符合这一条件，即在试样层中可实现光谱分配，通过这一光谱分配对特定的紫外线光谱特性进行近似计算。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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