PCB测试机构、测试压板及PCB测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201821791142.4
IPC分类号：G01R31/28;G01R1/067
申请日期：
2018-10-31
申请人：
广州视源电子科技股份有限公司;广州镭晨智能科技有限公司

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著录项信息

专利名称	PCB测试机构、测试压板及PCB测试装置
申请号	CN201821791142.4	申请日期	2018-10-31
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;1;/;0;6;7查看分类表>
申请人	广州视源电子科技股份有限公司;广州镭晨智能科技有限公司	申请人地址	广东省广州市黄埔区云埔四路6号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	广州视源电子科技股份有限公司,广州镭晨智能科技有限公司	当前权利人	广州视源电子科技股份有限公司,广州镭晨智能科技有限公司
发明人	王洋
代理机构	广州华进联合专利商标代理有限公司	代理人	张硕

摘要

本实用新型涉及一种PCB测试机构、测试压板及PCB测试装置，所述PCB测试机构，包括测试基座，所述测试基座上有第一检测探针和转接探针，所述第一检测探针用于与待测试PCB其中一侧上的触点抵接，所述第一检测探针和转接探针电性连接，所述转接探针用于通过测试压板将第一检测探针获取的检测信息传递给测试系统；测试中，待测试PCB放置于测试基座上，测试压板按压待测试PCB，第一检测探针与待测试PCB上靠近测试基座一侧的触点抵接，转接探针通过测试压板将第一检测探针获取的信息传递给测试系统。转接探针的设置能够在测试压板按压待测试PCB时，通过转接探针与测试压板的配合将第一检测探针检测到的信息传递给测试系统。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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