基于多传感器集成测量的自由曲面类零件加工系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201110335125.6
IPC分类号：B23Q17/20;B23C3/00
申请日期：
2011-10-28
申请人：
华中科技大学

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著录项信息

专利名称	基于多传感器集成测量的自由曲面类零件加工系统
申请号	CN201110335125.6	申请日期	2011-10-28
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-05-02	公开/公告号	CN102430961A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	B23Q17/20 ? IPC结构图谱： B 作业；运输 B2 成型 B23 机床；其他类目中不包括的金属加工 B23Q 机床的零件、部件或附件，如仿形装置或控制装置（在车床或镗床上使用的各类刀具入B23B 27/00）；以特殊零件或部件的结构为特征的通用机床；不针对某一特殊金属加工用途的金属加工机床的组合或联合 B23Q17/00 机床上的指示或测量装置（用于刀具或工件的进给运动，切削速度或位置的自控制或调节入B23Q 15/00）〔3，4〕 B23Q17/20 用于指示或测量工件特性的，如轮廓，尺寸，硬度的〔4〕	IPC分类号	B;2;3;Q;1;7;/;2;0;;;B;2;3;C;3;/;0;0查看分类表>
申请人	华中科技大学	申请人地址	湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华中科技大学	当前权利人	华中科技大学
发明人	李文龙;尹周平;吴谋虎
代理机构	华中科技大学专利中心	代理人	曹葆青

摘要

本发明公开了一种基于多传感器集成测量的自由曲面类零件加工系统；曲面测量组件集成了非接触式和接触式两种传感器，曲面加工组件装有铣削用铣刀，曲面测量组件与曲面加工组件通过直线导轨连接；点云处理组件用于对非接触式传感器获得的点云数据进行几何处理，将当前工作台可直接执行的加工G代码提供给曲面加工组件进行加工；曲面测量组件对工件进行非接触式测量，再对精加工得到的产品进行接触式测量；质量检测组件用于对接触式传感器获得的测量数据进行误差比较，获得产品质量结果。本系统集成了非接触式和接触式两种传感器，在同一机床上实现“测量-加工-检测”一体化，整个过程无需人工干预，提高了加工效率和自动化程度。

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