光谱测定装置和光谱测定方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010298352.5
IPC分类号：G01N21/39
申请日期：
2020-04-16
申请人：
横河电机株式会社

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	光谱测定装置和光谱测定方法
申请号	CN202010298352.5	申请日期	2020-04-16
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2020-11-17	公开/公告号	CN111948172A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/39 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/25 颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响〔3〕 G01N21/31 测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术〔3〕 G01N21/39 利用可调谐的激光器〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;3;9查看分类表>
申请人	横河电机株式会社	申请人地址	日本东京变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	横河电机株式会社	当前权利人	横河电机株式会社
发明人	冈田昌典;中村元
代理机构	上海专利商标事务所有限公司	代理人	陆嘉

摘要

本公开提供了一种光谱测定装置，包括控制器，该控制器：使第一照射光和第二照射光在彼此不同的时机从第一光发射器和第二光发射器照射；与第一照射光和第二照射光的照射时机同步地，在彼此不同的时机将与第一光接收信号有关的信息和与第二光接收信号有关的信息存储在存储器中；基于在第一时间段期间存储在存储器中的与第一光接收信号有关的信息，获取与第一光谱有关的信息；并且基于在第二时间段期间存储在存储器中的与第二接收信号有关的信息，获取与第二光谱有关的信息。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供