微波暗室远场测试系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201910832462.2
IPC分类号：G01R29/10
申请日期：
2019-09-04
申请人：
中山香山微波科技有限公司

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著录项信息

专利名称	微波暗室远场测试系统
申请号	CN201910832462.2	申请日期	2019-09-04
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-12-10	公开/公告号	CN110554249A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R29/10 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R29/00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置 G01R29/08 电磁场特性的测量 G01R29/10 天线的辐射图〔1，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;2;9;/;1;0查看分类表>
申请人	中山香山微波科技有限公司	申请人地址	广东省中山市火炬开发区中山港大道99号金盛广场1号商业楼606房变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中山香山微波科技有限公司	当前权利人	中山香山微波科技有限公司
发明人	东君伟;冼育览;毛记平;黄桂华
代理机构	深圳瑞天谨诚知识产权代理有限公司	代理人	王昌花

摘要

本申请提供一种微波暗室远场测试系统，包括微波暗室、天线测试转台、射频信号链路、控制中心，所述天线测试转台设置于微波暗室内，所述射频信号链路连接天线测试转台与控制中心，所述天线测试转台包括发射天线转台和接收天线转台，所述接收天线转台为机器人转台。本申请是采用六轴工业机器人实现大范围、高自由度、高精度的天线辐射参数测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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