脉冲激光体纵波厚度测量系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201210501113.0
IPC分类号：G01B17/02
申请日期：
2012-11-29
申请人：
中国航空综合技术研究所

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	脉冲激光体纵波厚度测量系统
申请号	CN201210501113.0	申请日期	2012-11-29
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2013-03-13	公开/公告号	CN102967281A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B17/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B17/00 以采用次声波、声波、超声波振动为特征的计量设备〔4〕 G01B17/02 用于计量厚度	IPC分类号	G;0;1;B;1;7;/;0;2查看分类表>
申请人	中国航空综合技术研究所	申请人地址	北京市朝阳区京顺路7号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国航空综合技术研究所	当前权利人	中国航空综合技术研究所
发明人	石一飞;张鹭;李旭东;蔡良续
代理机构	中国航空专利中心	代理人	李建英

摘要

本发明属于测量技术，涉及一种厚度测量系统，特别是一种应用于金属材料或非金属材料厚度测量的脉冲激光体纵波测量系统。厚度测量系统将分光镜和凸透镜依次设置在同一光路上，光电二极管位于分光镜的反射光路上接收分光镜的反射光，光电二极管输出的电信号与电子计算机上的信号采集卡的一个接收端相连，信号采集卡的另一接收端与激光干涉仪输出端相连，脉冲激光器和激光干涉仪对心放置在被测样品两侧，被测样品放置在二维平移台上。本发明利用激光干涉仪探测超声体纵波，可以在线测量，也可用于高温环境；采用脉冲激光器和激光干涉仪对心放置，被测样品放置在二维电控平移台上的方式，实现了激光在被测样品表面的快速二维扫描。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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