基于哈密顿路径缓解NDE效应的混合高度单元合法化方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110828737.2
IPC分类号：G06F30/392;G06F30/3947;G06F30/398;G06F111/04
申请日期：
2021-07-22
申请人：
上海立芯软件科技有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	基于哈密顿路径缓解NDE效应的混合高度单元合法化方法
申请号	CN202110828737.2	申请日期	2021-07-22
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-10-01	公开/公告号	CN113468846A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F30/392	IPC分类号	G;0;6;F;3;0;/;3;9;2;;;G;0;6;F;3;0;/;3;9;4;7;;;G;0;6;F;3;0;/;3;9;8;;;G;0;6;F;1;1;1;/;0;4查看分类表>
申请人	上海立芯软件科技有限公司	申请人地址	上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区云汉路979号2楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海立芯软件科技有限公司	当前权利人	上海立芯软件科技有限公司
发明人	张益敏;柳作栋;李晨;杨晓剑
代理机构	福州元创专利商标代理有限公司	代理人	郭东亮;蔡学俊

摘要

本发明提出基于哈密顿路径缓解NDE效应的混合高度单元合法化方法，包括以下步骤；步骤S1、对布局进行单元重排，使之满足VDD/VSS约束；步骤S2、构建可确定所有多高度单元的顺序的单元图；步骤S3、对于每行的单元，通过最小权值（u,v）哈密顿路径近似算法分段地将该行中的单元扩展到排列顺序中；步骤S4、检查完成步骤S3的行，对剩下单元，使用最小u‑哈密顿路径近似算法将所有剩下的节点都扩展到排列顺序中，得到该行的最终排列顺序；步骤S5、每一行排列完毕后，消除所有重叠以及NDE违规；步骤S6、通过单元交换消除不必要的填充单元，将超出右边界的单元放置到自由空间，得到合法的结果。本发明能以快速、适应能力强、求解质量好的方法来缓解布局中的NDE违规。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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