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用于惯性约束聚变装置全光路像差的测量和校正方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200710176882.7
  • IPC分类号:G02B26/06
  • 申请日期:
    2007-11-06
  • 申请人:
    中国科学院光电技术研究所
著录项信息
专利名称用于惯性约束聚变装置全光路像差的测量和校正方法
申请号CN200710176882.7申请日期2007-11-06
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2008-04-16公开/公告号CN101162294
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G02B26/06IPC分类号G;0;2;B;2;6;/;0;6查看分类表>
申请人中国科学院光电技术研究所申请人地址
四川省双流350信箱 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院光电技术研究所当前权利人中国科学院光电技术研究所
发明人敖明武;杨平;蔡冬梅;杨泽平;饶长辉;姜文汉
代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司代理人贾玉忠;卢纪
摘要
用于惯性约束聚变装置的全光路像差的测量和校正方法,将哈特曼波前传感器放置在激光放大器之后的光路中探测近场波前,将反射变形镜放置在哈特曼波前传感器之前的光路中,将CCD放置在全光路远场,以探测焦斑强度分布,动态像差由哈特曼波前传感器直接测量,静态相差由反射变形镜、哈特曼波前传感器和远场CCD相互配合共同测量,当驱动反射变形镜,哈特曼波前传感器记录下变形镜调制的不同波前,同时远场CCD记录下相应的远场强度;根据记录下的不同近场调制波前和相应的远场强度数据对,利用迭代算法计算出惯性约束聚变装置全光路静态像差,驱动反射变形镜将该像差校正。本发明实现了ICF装置全光路像差的测量和校正。

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