一种矮化密植苹果园防风格架风洞模型评价方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110631988.1
IPC分类号：G06F30/20
申请日期：
2021-06-07
申请人：
北京四良科技有限公司

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专利名称	一种矮化密植苹果园防风格架风洞模型评价方法
申请号	CN202110631988.1	申请日期	2021-06-07
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-08-31	公开/公告号	CN113326625A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F30/20	IPC分类号	G;0;6;F;3;0;/;2;0查看分类表>
申请人	北京四良科技有限公司	申请人地址	北京市朝阳区酒仙桥路10号27号楼一层103室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京四良科技有限公司	当前权利人	北京四良科技有限公司
发明人	于家伊;崔志强;张盐安;张文
代理机构	北京知呱呱知识产权代理有限公司	代理人	张永维

摘要

一种矮化密植苹果园防风格架风洞模型评价方法，通过确定对防风格架进行风洞模型评价的计算域，将防风格架的立柱中心点设置在计算域宽度方向的对称轴上，预设防风格架的立柱中心点到计算域边界的距离；对计算域采用非均匀正交曲线网格离散，计算模型中采用虚拟边界力方法模拟空气与立柱间相互作用，采用大涡模型进行紊流模拟；根据单位面积上的最大受力及果树受风力面积范围计算果树的受力范围；根据拖曳计算公式模拟得到的平均拖曳力系数，根据流动雷诺数查表得出立柱的拖曳力系数。本发明能够根据地域风害特点指导改进性价比合适的防风格架系统，例如确定选用受力抗压强度不等的水泥立柱或边杆是否加固三角铁，提高防风性能，降低成本。

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