一种基于Labview的EMCCD芯片全性能参数测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910771797.8
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2019-08-21
申请人：
南京理工大学

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著录项信息

专利名称	一种基于Labview的EMCCD芯片全性能参数测试方法
申请号	CN201910771797.8	申请日期	2019-08-21
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-05-15	公开/公告号	CN111157225A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	南京理工大学	申请人地址	江苏省南京市孝陵卫200号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	南京理工大学	当前权利人	南京理工大学
发明人	何伟基;许航;陈钱;张闻文;顾国华;陈远金;戴放;邹燕
代理机构	南京理工大学专利中心	代理人	唐代盛

摘要

本发明公开的一种基于Labview的EMCCD芯片全性能参数测试方法，该方法的测试系统由光强连续可调积分球光源、微光照度计、光栅单色仪、暗箱、电子控制箱和NI专业工控机组成，基于Labview平台将测试系统各组件控制、测试环境信息记录、性能参数算法计算结合在一起，完成盲元率、电荷‑电压转换因子、电荷转移效率、量子效率、光谱响应率、探测灵敏度、动态范围、读出噪声、满阱电荷、暗信号、暗信号非均匀性、光子响应非均匀性、增益倍数、噪声因子、倍增等效读出噪声共15项参数的测试，不仅能完整评估EMCCD芯片的测试性能，而且大大缩短了测试时间、降低了测试人员对EMCCD基础知识的要求；测试结果准确可靠、测试过程方便快捷、测试人员负担很小。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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