一种基于双芯光纤干涉条纹的生成和采集测量装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201320702271.2
IPC分类号：G01B11/24
申请日期：
2013-11-08
申请人：
湖北汽车工业学院

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种基于双芯光纤干涉条纹的生成和采集测量装置
申请号	CN201320702271.2	申请日期	2013-11-08
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/24 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/24 用于计量轮廓或曲率	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;4查看分类表>
申请人	湖北汽车工业学院	申请人地址	湖北省十堰市十堰市车城西路167号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	湖北汽车工业学院	当前权利人	湖北汽车工业学院
发明人	张伟
代理机构	十堰博迪专利事务所	代理人	宋志雄

摘要

本实用新型公开了一种基于双芯光纤干涉条纹的生成和采集测量装置，还包括干涉条纹的生成以及条纹的投射与采集处理；其中干涉条纹的生成在信号部整体框架中，LD光源由光纤耦合器分成两路光纤传输，其中光纤一部分缠绕在压电陶瓷PZT上，光纤一与另一路光纤二集合到双芯光纤，双芯光纤干涉经由光纤发射端发射，经过反光镜投射到被测物表面；采集处理的测量部整体框架中反光镜的反射光线通过透镜、孔径光阑、准直透镜至CCD摄像机；测头支撑结构在反光镜下；光纤发射端下设有螺纹调整机构。计算机分析变形条纹获得被测物表面三维信息，适用于狭小空间内物体三维形貌测量，具有测量速度快及测量精度高的特点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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