一种校核基于振动定位GIS局部放电设备的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201410146925.7
IPC分类号：G01R35/00
申请日期：
2014-04-13
申请人：
北京工业大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种校核基于振动定位GIS局部放电设备的方法
申请号	CN201410146925.7	申请日期	2014-04-13
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-07-23	公开/公告号	CN103941209A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R35/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R35/00 包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准〔2〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;5;/;0;0查看分类表>
申请人	北京工业大学	申请人地址	北京市朝阳区平乐园100号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京工业大学	当前权利人	北京工业大学
发明人	许东来;李飞;张文波;万梦
代理机构	北京思海天达知识产权代理有限公司	代理人	刘萍

摘要

本发明提供一种校核基于振动定位GIS局部放电设备的方法，其特征在于装置由以下部分组成：（1）实验用带固定孔的圆柱腔体、（2）标准振动信号发生器、（3）待校核的基于振动定位GIS局部放电的检测设备。所使用的方法有：（1）使用展成法转换圆柱腔体的坐标为平面坐标，标记出坐标A点，如附图1、（2）利用待测的局部放电定位设备求出局放坐标、（3）重复执行（2）步骤、（4）将求得的多组坐标求取均值A’，将其与A点坐标比较，校核调试直至测试范围在以A点为圆心，半径为10cm圆的范围内为止。本发明校核速度快，能节省大量人力物力，在生产企业在GIS局放定位设备的校核中，起到了显著地作用。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供