可测量表面应变横向偏导的横向偏差全桥双叉指型金属应变片

发明专利有效专利

申请号：
CN201510496635.X
IPC分类号：G01B7/16
申请日期：
2015-08-13
申请人：
浙江工业大学

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著录项信息

专利名称	可测量表面应变横向偏导的横向偏差全桥双叉指型金属应变片
申请号	CN201510496635.X	申请日期	2015-08-13
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2015-10-28	公开/公告号	CN105004262A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B7/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B7/00 以采用电或磁的方法为特征的计量设备 G01B7/16 用于计量固体的变形，例如电阻应变仪	IPC分类号	G01B7/16查看分类表>
申请人	浙江工业大学	申请人地址	浙江省杭州市下城区朝晖六区潮王路18号浙江工*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浙江工业大学	当前权利人	浙江工业大学
发明人	张端
代理机构	杭州斯可睿专利事务所有限公司	代理人	王利强

摘要

一种可测量表面应变横向偏导的横向偏差全桥双叉指型金属应变片，包括基底和四个敏感栅，每个敏感栅的两端分别连接一根引出线，每一敏感栅包括敏感段和过渡段，所有敏感段的轴线为直线、平行布置并且在同一个平面内；在敏感段轴线所确定平面内，沿所述敏感段轴线方向即轴向，与轴向垂直的方向为横向；四个敏感栅电阻一致，在相同应变下电阻变化量一致，沿横向从上至下分别称为上上敏感栅，上下敏感栅，下上敏感栅和下下敏感栅，上上敏感栅与上下敏感栅之间呈叉指布置，下上敏感栅与下下敏感栅之间也呈叉指布置；四个敏感栅中心在轴向上无偏差，在横向上有偏差。本发明既能测量应变更能有效检测表面应变横向一阶和二阶偏导。