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低介电常数交联型含氟聚芳醚腈薄膜及其制备方法和应用

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110309603.X
  • IPC分类号:C08J7/12;C08J5/18;C08L71/10;C08G65/40
  • 申请日期:
    2021-03-23
  • 申请人:
    电子科技大学
著录项信息
专利名称低介电常数交联型含氟聚芳醚腈薄膜及其制备方法和应用
申请号CN202110309603.X申请日期2021-03-23
法律状态实质审查申报国家暂无
公开/公告日2021-05-28公开/公告号CN112851996A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C08J7/12IPC分类号C;0;8;J;7;/;1;2;;;C;0;8;J;5;/;1;8;;;C;0;8;L;7;1;/;1;0;;;C;0;8;G;6;5;/;4;0查看分类表>
申请人电子科技大学申请人地址
四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人电子科技大学当前权利人电子科技大学
发明人黄宇敏;刘宸辰;曾子秋;王登善;刘孝波
代理机构成都虹桥专利事务所(普通合伙)代理人张小丽
摘要
本发明公开了一种低介电常数交联型含氟聚芳醚腈薄膜及其制备方法和应用,属于高分子合成技术领域。本发明将可交联聚芳醚腈I、催化剂溶于极性溶剂中,通过流延成膜法,制得可交联型聚芳醚腈薄膜;其经烘干成型后,再进行高温热处理;冷却后,将薄膜浸泡在水,烘干,得到低介电常数交联型含氟聚芳醚腈薄膜。本发明以可交联的含氟聚芳醚腈为原料,通过交联反应,使聚芳醚腈主链上的极性氰基基团发生交联反应,形成致密的网络结构,从而得到低介电含氟聚芳醚腈薄膜,且具有更加优异的耐热性和强度。本发明制备方法简单且易于工业化操作,所得低介电薄膜可应用在集成电路、5g通信天线材料或柔性覆铜板等领域。

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