一种批量检验电路板上元器件焊接正确性的检验方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201110451246.7
IPC分类号：G01N21/88
申请日期：
2011-12-29
申请人：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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著录项信息

专利名称	一种批量检验电路板上元器件焊接正确性的检验方法
申请号	CN201110451246.7	申请日期	2011-12-29
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-07-04	公开/公告号	CN102539441A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/88 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;8查看分类表>
申请人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	申请人地址	吉林省长春市东南湖大路3888号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	当前权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人	顾营迎;贺庚贤;宁飞;沈湘衡
代理机构	长春菁华专利商标代理事务所	代理人	刘树清

摘要

一种批量检验电路板上元器件焊接正确性的检验方法，属于光电检测技术领域中涉及的批量检验电路板上元器件焊接正确性的检验方法。要解决的技术问题是：提供一种批量检验电路板上元器件焊接正确性的检验方法。解决的技术方案包括有：搭建检验基台并构建计算机控制系统、建立检验模板、对待检批量电路板逐一照相、图像处理并给出预判结果、对于判定的不合格品进行人工复查。该方法利用照相技术和图像处理技术，相比人工检验具有检验准确率高、检验效率高、可实现大批量电路板的快速检验，降低了检验员的工作强度，提高了检验效率，缩短了产品的检验周期。

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