一种同时偏振成像探测系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201810140043.8
IPC分类号：G01J3/447;G02B27/28
申请日期：
2018-02-09
申请人：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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著录项信息

专利名称	一种同时偏振成像探测系统
申请号	CN201810140043.8	申请日期	2018-02-09
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2018-07-10	公开/公告号	CN108267226A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/447 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕 G01J3/447 偏振光谱法〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;4;4;7;;;G;0;2;B;2;7;/;2;8查看分类表>
申请人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	申请人地址	吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	当前权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人	王建立;张振铎;刘欣悦;张景旭
代理机构	深圳市科进知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	赵勍毅

摘要

一种同时偏振成像探测系统，包括沿光路依次设置的物镜、偏振阵列器、中继透镜和焦平面阵列，所述偏振阵列器设于所述物镜的成像像面处，所述偏振阵列器经过所述中继透镜成像于所述焦平面阵列处，所述偏振阵列器与所述焦平面阵列共轭成像；所述偏振阵列器包括在同一基底平面上呈阵列排列的多个偏振单元。上述同时偏振成像探测系统可对运动目标进行偏振成像，具有较强的适应性，结构轻小紧凑。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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