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微透镜阵列的形成方法及点胶装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202011135589.8
  • IPC分类号:G02B3/00;B05C13/02;B05C11/06;B05C5/02
  • 申请日期:
    2020-10-22
  • 申请人:
    晶芯成(北京)科技有限公司
著录项信息
专利名称微透镜阵列的形成方法及点胶装置
申请号CN202011135589.8申请日期2020-10-22
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2020-11-20公开/公告号CN111965740A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G02B3/00IPC分类号G;0;2;B;3;/;0;0;;;B;0;5;C;1;3;/;0;2;;;B;0;5;C;1;1;/;0;6;;;B;0;5;C;5;/;0;2查看分类表>
申请人晶芯成(北京)科技有限公司申请人地址
北京市大兴区北京经济技术开发区科创十三街29号院一区2号楼13层1302-C54 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人晶芯成(北京)科技有限公司当前权利人晶芯成(北京)科技有限公司
发明人王厚有;冯永波;刘西域;周晓峰
代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)代理人曹廷廷
摘要
本发明提供了一种微透镜阵列的形成方法及点胶装置,包括提供晶圆,所述晶圆包括若干个芯片,所述芯片上包括像素区;依次在所述芯片的像素区的中心进行滴光刻胶作业;对所述芯片的像素区进行气体吹扫,以调整所述像素区上光刻胶的形貌,以及进行光刻作业,以在所述芯片的像素区形成特定形貌的微透镜阵列。本发明通过采用步进式光刻胶涂布方法实现点胶,且在点胶过程中通过气体吹扫调整光刻胶的形貌,以使后续形成的微透镜阵列具有特定形貌,实现CRA优化,减小像差。

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