透镜的评价方法及其装置、光学单元和透镜的调整方法及装置

发明专利无效专利

申请号：
CN00106255.7
IPC分类号：G01M11/02;G02B7/00
申请日期：
2000-05-19
申请人：
松下电器产业株式会社

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法律信息

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著录项信息

专利名称	透镜的评价方法及其装置、光学单元和透镜的调整方法及装置
申请号	CN00106255.7	申请日期	2000-05-19
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2000-11-29	公开/公告号	CN1274839
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2;;;G;0;2;B;7;/;0;0查看分类表>
申请人	松下电器产业株式会社	申请人地址	日本大阪府变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	松下电器产业株式会社	当前权利人	松下电器产业株式会社
发明人	高田和政;中城正裕;西井完治
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	汪惠民

摘要

透镜的评价方法包括：(a)衍射从透镜射出的光，让不同次数的2个衍射光(例如0次衍射光31和+1次衍射光32)干涉获得共用干涉象50的工序；(b)改变衍射光的相位工序；(c)在共用干涉象中，通过连接2个衍射光的光轴的线段的中点的测线上的多个测点求出光强度变化的相位的工序；(d)以相位为基础求出透镜的特性(散焦量、慧形象差、象散、高阶象差)的工序。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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